Otsuka Electronics Co.,Ltd。在Tokyo 2021的高型功能性材料週上表現出線路掃描膜厚度計。

我將解釋線掃描膜厚儀。
大塚電子已被要求測量大量薄膜厚度,但
大塚電子已被要求測量大量薄膜厚度,但

直到現在,許多客戶對它是1分的事實感到不滿。

畢竟,我能夠測量出可以測量整個表面上測量點的膜厚計。
不僅是厚度,其他薄膜異常都在這裡。
不僅是厚度,其他薄膜異常都在這裡。

它以能夠判斷的形式存在。

基本上有膜厚範圍,時間,系統,所以

我希望你可以詢問細節。就這樣。













